m2c microscopy measurement & calibration

Über uns

m2c ist spezialisiert auf geometrische Mess- und Kalibriertechnologien im Mikro- und Nanobereich. Auf der Basis umfangreicher Forschungsaktivitäten auf dem Gebiet dreidimensionaler Kalibriertechnologien für scannende Mikromesstechnik haben wir ein völlig neues Produkt entwickelt: 3D- Pyramiden-Normale, welche in Verbindung mit einer speziellen Analysesoftware auf einfache Weise die komplette geometrische Kalibrierung in einem Schritt erlauben.

Die neue 3D-Kalibriertechnologie ist für Rasterkraftmikroskopie (AFM/SPM) und Rasterelektronenmikroskopie (REM) verfügbar und wird weltweit in Metrologie-Instituten, Universitäten und Firmen eingesetzt. Mit der laufenden Adaption an optische 3D-Mikroskopie (insbesondere der Konfokalmikroskopie, CLSM) steht die neue Kalibriertechnologie auch für multi-modale Anwendungen bereit.

m2c bietet darüber hinaus Dienstleistungen und Beratung im Bereich Mikromesstechnik und Kalibrierung ebenso an, wie Softwarelösungen auf dem Gebiet der räumlichen Datenanalyse, Bildverarbeitung und Koordinatenmessung. Um die Wünsche unserer Kunden optimal zu erfüllen, vertreiben wir zusätzlich geometrische Kalibrierstandards sowie spezielle Mikroskopiesoftware von ausgewählten Drittanbietern.

Gemeinsam mit bewährten Partnern besitzt m2c besondere Erfahrungen auf dem Gebiet der Mikrostrukturierung mit Focused Ion Beam (FIB). Prototyping und Reverse Engineering auf der Basis automatisierter FIB-Prozesse erlauben die Fertigung von Mikro- und Nanostrukturen nach Ihren Wünschen.

Die von m2c entwickelte Methode der 3D-Kalibrierung ist in der VDI/VDE Richtlinie 2656: "Bestimmung geometrischer Messgrößen mit Rastersondenmikroskopen, Blatt 1: Kalibrierung von Messsystemen" und in der überarbeiteten ISO 16700 „Microbeam analysis - Scanning electron microscopy - Guidelines for calibrating image magnification“ aufgenommen worden.