8. Mai 2023
3D-µ-Normale für optische Mikroskope
3D-µ-Normale für optische Mikroskope. Ergebnisse des Gemeinschaftsprojekts zwischen PTB und point electronic werden erstmals auf der Control Messe 2023 (PTB-Stand, 9104) präsentiert.
m2c microscopy measurement & calibration
Aktuelles
27. Februar 2023
Aktuelle Publikation
Posterbeitrag auf der Microscopy Conference 2023 zum Thema "Using Machine Learning and Topographic SEM Imaging for Software Assisted Fractography"
7. Dezember 2020
Neue Veröffentlichung
Veröffentlichung zum Thema "Geometrische Analysen im REM". Der Link zur kompletten Veröffentlichung: Geometrical Analysis in SEM
15. Oktober 2019
Aktuelle Publikation
Posterbeitrag auf der Nanoscale 2019 zum Thema: "Calibration of 3D reference standards using metrological large range AFM and calibrated confocal microscopy"
18. September 2019
Aktuelle Publikation
Aktuelle Publikation anlässlich der 52. Metallographie-Tagung 2019 in Dresden zum Thema In-situ Messung der 3D-Topografie von Bruchflächen im REM. Die Daten wurden mit dem DISS BSE-Topografie-System der point electronic GmbH aufgenommen.
23. Oktober 2018
3D Kalibrierung jetzt in DISS REM Steuerung integriert
Das Live-3D-Topografie Modul der REM Steuerung DISS nutzt ab sofort die M2C 3D Kalibriertechnologie. Damit können Sie quantitative Topografie-Messungen am REM durchführen. Sie benötigen dazu die DISS 3D Erweiterung für ihr REM und ein M2C Kalibriernormal. Weitere Informationen zur DISS 3D Topografie Erweiterung finden sie hier.